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ポータブル近赤外分光光度計 XL410

MEMS技術から生まれたXL410は光源(SLED)とファブリペロー干渉計がワンチップに格納されています。
ファイバープローブ専用としてデザインされた近赤外分光光度計で、USB、有線LAN、無線LAN、RS232Cでコントロールできます。
分光器はGRAMSソフトウェアからセットアップ、データ計測が可能で、PLS Plusソフトウェアの併用で定量結果を直接出力可能です。
ディテクタ部は取り外しすることができ、積分球式拡散反射プローブ等を取り付けて使用可能です。
  ポータブル近赤外分光光度計 XL410
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技術仕様

装置構成

  • 測定波長範囲: 1350~1800nm
  • 分解能: 3.5 cm-1
  • S/N: 5500:1(スキャン時間250msec)
  • 波長精度: ±0.025nm
  • 波長再現性: ±0.01nm
  • 寸法: 178mm×114mm×56mm
  • PCとの接続: USB 2.0、RS-232、802.11b無線LAN
  • ファイバー接続: 出力側:FC/APC 検出器側:SMA905

技術情報

プレゼンテーション・アプリケーションノート

Integra Spec XLシリーズ測定例 (451kB)
近赤外(NIR)分光における拡散反射測定 (137KB)

リンク

Axsun Tech