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25回反射 ATR装置

高感度ATR測定のための角度可変多重反射ATR装置です。
反射回数が多いこと、また、入射角度可変であることにより、吸収の弱いサンプルの小さな吸収ピークを高感度で測定することが可能です。
サンプルホルダー位置をスライドさせ、入射角を30°から60°まで変えることでATRのもぐり込み深さを変えることができます。
シリコンウエハなど試料自身をATRプリズムに加工し、ウエハ表面の薄膜測定などが可能です。
  25回反射 ATR装置

特長

入射角度可変: 30°~60°
高感度25回反射
サンプルホルダーはピンに差し込むだけのワンタッチ取付け
全FTIR機種に対応するコンパクトなスライドマウント光学
各種結晶材、入射角度に対応 (KRS-5 45°標準)
※その他の材質および入射角30°, 60°クリスタルはご相談下さい。
※反射回数25回は厚さ2mm、長さ50mm、入射角45°の場合です。他の入射角、厚みでは反射回数が増減します。
オプションetc.
 
データシート
 
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技術情報

アプリケーション

  • 固体分析用
  • ゲル/ペースト
  • コーティングやフイルムの深さ方向分析
  • 吸収の弱い黒ものサンプル等の分析

ワンポイント

ATR法で吸収が強すぎる場合、もぐり込み深さを浅くするには、より屈折率の高い結晶を使用し、入射角を大きくします。PDF結晶特性表(1.81MB; p. 50)を参照下さい。

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