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弊社ではお客様のご要望により、光量測定・物性測定・分光測定等に関連した種々のカスタムメイドに対応させていただいております。永年の経験と豊富な実績によりソリューションをご提案できると思います。ご相談をお待ちしております。
赤外分光法を用いた半導体材料特性評価機器です。各ウエハサイズ、各アプリケーション(EPI膜アツ測定、格子間炭素濃度等)に対応した装置を取り揃えております。
元北海道大学大澤先生ご指導の元、In-situで電極界面を高感度に測定するアタッチメントを開発しました。どのメーカーのFTIRにも接続出来ます。
ラブスフェア社製の拡散材料スペクトラロンのOEM供給をはじめ、光学部品へのコーティングや機械加工を施したOEM製品のご相談を承っております。