FT-IR用積分球 ゴールデンアイIII

メーカー:株式会社システムズエンジニアリング

FT-IR用積分球 ゴールデンアイIII
FT-IR用積分球 ゴールデンアイIII

FT-IR試料室に取付け可能な高性能積分球アクセサリー

全半球反射率・透過率の測定に最適なFT-IRアクセサリーです。光散乱するサンプルを容易に測定することができます。

対象分野

  • 自動車、自動車関連部材,照明・ディスプレイ,半導体,高分子・高機能素材,生体試料

特長

  • 高感度MCT検出器組み込み済み
  • パージポート付
  • FT-IRの試料室に取り付け可能/その他検出器取り付け可能

技術情報

基本仕様

積分球:内径約10cm
内壁:金コート
入射角:17°
サンプルポート:反射専用・透過専用・反射透過両用
測定波長範囲:4000-700cm-1
検出器:MCT
※FT-IRのメーカーやモデルにより仕様の詳細は異なります。

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