25回反射 ATR装置

メーカー:Specac Ltd

25回反射 ATR装置
25回反射 ATR装置

入射角可変 (30-60°) の多重反射垂直型 ATR アクセサリ

高感度ATR測定のための角度可変多重反射ATR装置です。
反射回数が多いこと、また、入射角度可変であることにより、吸収の弱いサンプルの小さな吸収ピークを高感度で測定することが可能です。
サンプルホルダー位置をスライドさせ、入射角を30°から60°まで変えることでATRのもぐり込み深さを変えることができます。
シリコンウエハなど試料自身をATRプリズムに加工し、ウエハ表面の薄膜測定などが可能です。

対象分野

  • 自動車、自動車関連部材,半導体,高分子・高機能素材

特長

  • 入射角度可変 : 30°~60°
    高感度25回反射
    サンプルホルダーはピンに差し込むだけのワンタッチ取付け
    全FTIR機種に対応するコンパクトなスライドマウント光学
    各種結晶材、入射角度に対応 (KRS-5 45°標準)
    ※その他の材質および入射角30°, 60°クリスタルはご相談下さい。
    ※反射回数25回は厚さ2mm、長さ50mm、入射角45°の場合です。他の入射角、厚みでは反射回数が増減します。

技術情報

アプリケーション

固体分析用
ゲル/ペースト
コーティングやフイルムの深さ方向分析
吸収の弱い黒ものサンプル等の分析

ワンポイント

ATR法で吸収が強すぎる場合、もぐり込み深さを浅くするには、より屈折率の高い結晶を使用し、入射角を大きくします。PDF結晶特性表(1.81MB; p. 50)を参照下さい。

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