SEMICON Japan 2019に出展しました
ご来場いただいた皆様、誠にありがとうございました。
半導体製造分野においてFT-IR・ラマン測定技術が活躍する期待を込めて、弊社としてはこのたび初のSEMICON Japan 2019出展となりました。
基盤のひずみや応力測定・パーティクル分布の解析・表明形状の観測が可能な装置を展示。
弊社では半導体工場ライン向け評価用FT-IRの取り扱いもしております。各ウェハに合わせた特注アプリケーションをご提案し、ニーズに合った製品をお届けします。
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